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【展會】美信檢測參展2016納博會


摘要:

2016年10月26-28日,CHInano2016第七屆中國國際納米技術產業博覽會(簡稱“納博會”)將于蘇州國際博覽中心盛大開幕,該展會聚焦納米新材料、分析與檢測、微納制造、MEMS、納米生物與醫藥、納米環保與清潔等領域的產品與技術,打造中國最具價值的納米展場,美信檢測作為材料行業的最佳合作伙伴,受邀參展。







關鍵詞:

成分分析,失效分析







案例正文

2016年10月26-28日,CHInano2016第七屆中國國際納米技術產業博覽會(簡稱“納博會”)將于蘇州國際博覽中心盛大開幕,該展會聚焦納米新材料、分析與檢測、微納制造、MEMS、納米生物與醫藥、納米環保與清潔等領域的產品與技術,打造中國最具價值的納米展場,美信檢測作為材料行業的最佳合作伙伴,受邀參展。

 

美信檢測將于納博會展示多項檢測項目,包含新材料/新工藝分析、材料表面結構及成分分析失效分析,其中不乏高端分析項目。

 

新材料/新工藝分析

項目分析:作為一家專注于材料和零部件檢驗及分析的專業第三方實驗室,憑借多年的檢驗、分析經驗,可以幫助研發單位制訂新材料/新工藝的質量評價方案,幫助買家依據相關標準或規格書驗證新材料的關鍵技術參數,出具權威檢測、分析報告。

 

項目展示:新興電子信息材料、高端金屬結構材料、先進高分子材料、新型無機非金屬材料、高性能的復合材料、前沿新材料。

 

案例圖片

蘇州美信 蘇州美信
PCB切片分析 芯片SEM圖片

 

材料表面結構及成分分析

項目分析:利用電子、光子、離子、原子、強電場、熱能等與固體表面的相互作用,測量從表面散射或發射的電子、光子、離子、原子、分子的能譜、光譜、質譜、空間分布或衍射圖像,得到表面成分、表面結構、表面電子態及表面物理化學過程等信息,包括表面元素組成、化學態及其在表層的分布測定等。

 

項目展示:俄歇電子能譜分析(AES)、X射線光電子能譜分析(XPS)、飛行時間二次離子質譜分析(TOF-SIMS)、動態二次離子質譜分析(D-SIMS)、聚焦離子束(FIB)、透射電子顯微鏡(TEM)、X射線衍射分析(XRD)。

 

案例圖片:

蘇州美信 蘇州美信
LED碎片金相顯微鏡觀察 微米級缺陷樣品截面制備
蘇州美信 蘇州美信
離子成像觀察銅箔金相調整 PCB焊盤測試

 

失效分析

項目分析:通過分析工藝廢次品、早期失效、試驗失效、中試失效以及現場失效的失效產品明確失效模式、分析失效機理,最終明確失效原因。

 

項目展示:電子元器件失效分析、金屬材料失效分析、高分子材料失效分析、復合材料失效分析、PCB/PCBA失效分析等。

 

案例圖片:

蘇州美信 蘇州美信
電梯按鈕PC外框斷裂失效 發光二極管開路失效
蘇州美信 蘇州美信
二極管短路失效 IC分層失效

 

美信檢測是一家具有CNAS與CMA認可資質的商業實驗室,專注于為客戶提供材料品質檢驗、鑒定、認證及失效分析等專業技術服務,美信檢測即將亮相2016納博會,在此,誠邀您蒞臨美信檢測展位參觀洽談。

 

展會時間:2016年10月26-28日

展會地點:蘇州國際博覽中心F3、G3館

展位號:118號

 

展會福利:

1. 精美禮品,來了就送;

2. 展會現場專業技術工程師面對面交流,免費咨詢技術問題;

3. 現場贈送一份美信檢測“2016失效分析與測試案例精選”期刊,年度經典案例解說等著你。

 

簡介

MTT(美信檢測)是一家從事材料及零部件品質檢驗、鑒定、認證及可靠性測試服務的第三方實驗室,網址:www.markangulo.com,聯系電話:400-118-1002。




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